Детали различной конфигурации

Профилографы находят применение главным образом при лабораторных исследованиях микрогеометрии поверхности, так как пользование ими более трудоёмко, чем непосредственное измерение среднего квадратичного отклонения по профилометру. Двойной микроскоп акад.

Линника позволяет исследовать профиль поверхности методом светового сечения.

Прибор даёт возможность оценивать микрогеометрию поверхности по максимальной высоте неровностей. В поле зрения двойного микроскопа помещается испытуемая поверхность в поперечнике от 0,3 до 1 мм с увеличением от X 153 До X 63 в зависимости от увеличения объектива.

Максимальная высота неровностей может быть определена отсчётом по делениям оптической шкалы прибора. Недостаток двойного микроскопа — одинаковые масштабы увеличения кривой профиля в направлении обеих осей координат.

Микроинтерферометр акад. Линника основан на применении принципов интерференции света при измерении мельчайших неровностей поверхности.

При этом неровности поверхности освещаются лучами, пропускаемыми через линзы. Таким образом, малые Участки поверхности и весьма малые неровности увеличиваются до величин.

Комментарии запрещены.

Инновации